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2022-11-01

光譜共焦關(guān)于晶圓薄膜厚度測量

如下圖所示:要求測量黃色晶圓薄膜的厚度


 


通過了解客戶的需求知道測量薄膜精度要求μm級別,根據(jù)客戶要求及產(chǎn)品觀察技術(shù)人員選用,D15A32搭配H4UO三分之一量程控制器,D15A32具有超小的光斑尺寸,帶來更高的線性精度和更高的分辨率,適合測量對分辨率高的粗糙度。

 

 

通過掃描測量可以看出其薄膜厚度13.914μm


(重復(fù)精度)

深圳立儀科技自2014年成立,至今8年時間,專業(yè)生產(chǎn)研發(fā)光譜共焦位移傳感器,經(jīng)過8年不斷其產(chǎn)品重復(fù)精度可達10nm級別,最薄可測8μm,測量角度可達±60°。